新製品ContourX-1000, NP-1000（高性能 3D 白色光干渉計）発売記念 企画
「サンプル測定デモ ContourXシリーズ体験会」 登録フォーム 

＜事前登録制＞
会場：SEMICON Japan 東京 ブルカージャパンブース　
12月13日-15日 | 10:30-11:30 ,14:00-15:00　

参加料 | 無料　

　最新型 高性能 3D 白色干渉計の能力を幅広くご理解いただく事を目的とした 体験会（サンプル測定デモ)のご案内です。
　
・　評価手段、装置の能力を調査されたい…
・　ご所有の装置では測定が難しい… （レーザー顕微鏡等）
・　さらに高い測定精度で表面の形状・粗さを見てみたい…
        
この機会に是非 Bruker製 ContourXシリーズをお試しください。
 

会場: SEMICON Japan 東京 ブルカージャパンブース　
東京ビッグサイト 東4ホール 　小間No. 4032
（※ご希望の日程時間をお知らせください）
対象機器        ：ContourX-500

ご予約枠
2023年12月13日（水）～15日（金） 
12月13日（水） AM 10:30～11:30 /  PM 14:00～15:00
12月14日（木） AM 10:30～11:30 /  PM 14:00～15:00
12月15日（金） AM 10:30～11:30 /  PM 14:00～15:00   

ご登録終了後、Act-onより登録完了メールが届きます。日程につきましては、別途担当よりご別にメールにてお知らせ致します。

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