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【日産アーク x Bruker共催】表面分析ダイジェストウェビナー
～表面・界面の状態を捉える！開発・品質向上につなげる表面分析技術～

新材料固有の特性及び機能発現メカニズムの解明や製造・品質を管理する上で、その表面・界面を正確に理解することは重要です。ポリマーから金属、電池や半導体材料等、いかなる材料にも表面は存在し、その形状・組成・物性など様々な要素が複雑に組み合わされることにより新たな機能が発現されます。こうした表面・界面に対応すべく、多くの表面分析技術が開発されてきております。

本ウェビナーでは、受託分析会社日産アークと分析装置メーカー Bruker から、各種分析装置の特徴を活かした測定・解析技術とその事例を通じて、表面分析を材料開発にどのようにアプローチさせ、活用できるかについてご紹介します。皆様のご参加をスタッフ一同心よりお待ちしております。

【プログラム内容】 
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20分　　｜ ラマン分光法による三次元構造解析 
                 　                                       株式会社日産アーク 　機能解析部　小林 健一
20分　　｜ ナノ赤外分光技術AFM-IRで挑む表面・界面の化学 
                 　                                       ブルカージャパン株式会社　アプリケーション部　横川雅俊
20分　　｜ 原子間力顕微鏡（AFM）による様々なナノ表面特性評価 
                 　                                       ブルカージャパン株式会社　アプリケーション部　二軒谷亮
20分　　｜ 高分解能オージェ電子分光法による局所元素分布調査 
                 　                                        株式会社日産アーク 　現象解析部　荒木 祥和

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