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ナノ赤外分光技術の最前線
～AFM-IRが実現するナノ領域の赤外分光分析～

AFM-IR分光法は、AFMと赤外パルスレーザーとの組み合わせにより光の回析限界を超える超微小領域から対象の赤外吸収特性を得る新しい分析技術です。ナノスケールのケミカルイメージング及びスペクトル測定は、試料の化学組成や分散状態を容易に可視化します。また、AFM本来の機能として試料の表面形状やその機械特性を分析し、化学構造とリンクさせることも可能です。こうした総合的な材料評価により、これまで困難とされてきた微小・微量材料の分析を実現します。 　本ウェビナーでは、このようなAFM-IRの測定原理と測定例、そしてその最新技術について広範囲にご紹介します。

【こんな方におすすめ】

• 従来の顕微分光技術の分解能に満足出来ない方
• コンポジット材料や多層フィルム等の成分分析及び界面の状態を総合的に評価したい方
• デバイス上に付着した微小異物の分析・故障解析をしたい方
• nanoIRがどのような装置が知りたい！

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